CMC-KUHNKE無損卷封檢測系統

新的 SEAMscan XTS III 第 3 代 XTS 是一個獨立的測量系統，可為圓形罐（鋁或鋼）提供無損二重卷封檢測。 該系統執行無損橫截面測量和 360° 緊密度掃描。 該系統提供更快的檢查結果，并降低了勞動力成本。

罐子被手動裝載到設備中，然后自動執行所有測量。 罐頭可以被保留以進行額外測試或送回生產。 XTS 的虛擬卷封拆卸技術提供高度準確的二重卷封檢測數據，同時顯著減少產品損壞。

XTS X射線卷封及緊密度掃描儀系列，全球產品

SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀是一款全新的，無損傷且獨立運行的二重卷封和卷封緊密度檢測儀器。卷封結構原自然狀態檢測，系統提高精度，節約時間，節省大量的檢測成本。

專為制罐商和罐裝廠打造的SEAMscan XTS™擁有高分辨率的卷封檢測和功能強大的緊密度自動檢測系統，儀器結構緊湊，操作簡便。

無損傷檢測，節約大量的檢測樣品

SEAMscan XTS™不需要切割就能完整檢測二重卷封內部結構尺寸。

SEAMscan XTS™僅不損傷檢測樣品的優勢，就能為制罐商和罐裝廠節約數以十萬計的成本。經過二重卷封蓋鉤皺紋度（卷封緊密度），以及前面提到的卷封內部結構尺寸檢測的產品，還能100%的用于銷售。SEAMscan XTS™同時能達到FDA對二重卷檢測的標準。

SEAMscan XTS也是一款能*適應生產工廠環境的二重卷封檢測工具，既實現從卷封外部評估二重卷封質量，又節約檢測成本。

不再需要剝離拆卸卷封

質檢人員不再需要拆卸卷封來查看蓋鉤的皺紋度。SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀自動掃描全部蓋鉤的皺紋度，測量并報告客觀的緊密度數值。

采用技術的SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀，無需人員參與檢測，能耗更低，采用無損傷的X射線檢測二重卷封內部結構。

“我們在20世紀90年代就能夠通過我們的SEAMscan軟件配合投影設備檢測蓋鉤皺紋度"CMC-KUHNKE的CEO Alex Grossjohann說道,“但是那套系統僅看到從二重卷封上拆卸下來的蓋鉤的表面影像。XTS不單單是在不損傷卷封的情況下檢測蓋鉤皺紋度，檢測的詳細程度也是比傳統檢測方式高出很多。"

不再評估緊密度，而是測量緊密度

人為錯誤已經成為過去——至少在二重卷封領域。

X射線緊密度掃描儀檢測二重卷封結構尺寸，以及全球技術的測量卷封內部的皺紋度。蓋鉤皺紋度的檢測結果會自動發送到電腦數據庫，電腦可以實時顯示卷封質量變化趨勢分析結果。

轉用的X射線穿過二重卷封，探測蓋鉤形狀的微妙變化。電腦通過程序算法分析卷封內部各個部位的變化情況，以確定是否對卷封的密封情況造成影響。檢測結果可以使緊密度百分比，亦或是皺紋度或緊密度平均值的形式顯示。

通過行Virtual Seam Teardown™（卷封虛擬拆卸）功能，可以看到身鉤和蓋鉤彼此疊接的真實情況，是以往無法想象的。

檢測項目 :  卷封高度，卷封間隙，身鉤，蓋鉤，疊接度，身鉤率，迭接率，緊密度

精度 :  卷封檢測

適用罐型 :  200 (52 mm)-603 (153 mm)

檢測速度 :  卷封內部結構45秒/罐，全檢70秒/罐

單位 :  Inch, mm, %

分辨率 :  卷封

語言 :  多種語言供選擇

電源 :  100-240 VAC, 50/60 Hz